判斷平板探測器圖像質量的好壞，通常用調制傳遞函數(MTF)和量子轉換效率(DQE)來衡量。MTF和DQE值高則表明該平板探測器產生的圖像質量能夠達到較好的空間分辨率和密度分辨率 [1] 。

  影響平板探測器DQE的因素：量子探測效率(DQE)是一種對成像系統信號和噪聲從輸入到輸出的傳輸能力的表達，以百分比表示。DQE反映的是平板探測器的靈敏度、噪聲、X線劑量和密度分辨率。在非晶硅平板探測器中，影響DQE的因素主要有兩個方面：閃爍體的涂層和將可見光轉換成電信號的晶體管 。

  首先閃爍體涂層的材料和工藝影響了X線轉換成可見光的能力，所以對DQE會產生影響。常見的閃爍體涂層材料有兩種：碘化銫和硫氧化釓。碘化銫將X線轉換成可見光的能力比硫氧化釓強但成本比較高;將碘化銫加工成柱狀結構，可以進一步提高捕獲X線的能力，并減少散射光。使用硫氧化釓做涂層的探測器成像速率快，性能穩定，成本較低，但是轉換效率不如碘化銫涂層高。其次將閃爍體產生的可見光轉換成電信號的方式也會對DQE產生影響。在碘化銫(或者硫氧化釓) 薄膜晶體管(TFT)這種結構的平板探測器中，因為TFT的陣列可以做成與閃爍體涂層的面積一樣大，所以可見光不需要經過透鏡折射就可以投射到TFT上，中間沒有光子損失，所以DQE也比較高;在非晶硒平板探測器中，X線轉換成電信號完全依賴于非晶硒層產生的電子空穴對，DQE的高低取決于非晶硒層產生電荷能力。總的說來，CsI TFT這種結構的間接轉換平板探測器的極限DQE高于a-Se直接轉換平板探測器的極限DQE。

  對于同一種平板探測器，在不同的空間分辨率時，其DQE是變化的;極限的DQE高，不等于在任何空間分辨率時DQE都高。DQE的計算公式如下：DQE=S2×MFT2/NSP×X×C

  S：信號平均強度;MTF：調制傳遞函數;X：X線曝光強度;NPS：系統噪聲功率譜;C：X線量子系數從計算公式中我們可以看到，在不同的MTF值中對應不同的DQE，也就是說在不同的空間分辨率時有不同的DQE 。

  調制傳遞函數對圖像質量的影響

  調制傳遞函數(MTF)是描述系統再現成像物體空間頻率范圍的能力。理想的成像系統要求100%再現成像物體細節，但現實中肯定存在不同程度的衰減，所以MTF始終<1，它說明成像系統不能把輸入的影像全部再現出來，換句話說，凡是經過成像系統所獲得的圖像都不同程度損失了影像的對比度。MTF值越大，成像系統再現成像物體細節能力越強。系統的MTF是必須要測定的。要評價數字X線攝影系統的固有成像質量，必須計算出不受主觀影響的、系統所固有的預采樣MTF。

  國際機構的測量結果表明，相比于非晶硅平板探測器，非晶硒平板探測器具有優良的MTF值，但空間分辨率增加時，非晶硅平板探測器的MTF迅速下降，而非晶硒平板探測器仍能保持較好的MTF值，這是與非晶硒平板探測器直接將入射的不可見X光光子直接轉換為電信號的成像原理密切相關的